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         高性能X射線熒光測試儀  |  
         
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             | 型 號:XDV -SDD |  
             | 品 牌:德國菲希爾Fischer |  
             | 技術(shù)指標:可自動測量超薄鍍層和分析痕量元素 |  
            
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          	  遼陽高性能X射線熒光測試儀-XDV -SDD-德國菲希爾Fischer
 
 高性能X射線熒光測試儀,橡膠涂層測厚儀,配有可編程XY平臺和Z軸,南昌涂層測厚儀,可自動測量超薄鍍層和分析痕量元素
 
  
 
 儀器特點
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 高級型號儀器,青島涂層測厚儀,具有常見的所有功能
 
 
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 射線激發(fā)量的靈活性最大,涂層干膜測厚儀,激發(fā)量可根據(jù)測量面積大小和光譜組成而改變
 
 
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 通過硅漂移探測器,涂層測厚儀器,在 > 10萬cps(每秒計數(shù)率) 的超高信號量下也可以正常工作,標線涂層測厚儀,而不會出現(xiàn)能量分辨率的降低
 
 
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 極低的檢測下限和出色的測量重復(fù)度
 
 
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 帶有快速、可編程 XY 工作臺的自動測量儀器
 
 
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 大容量便于操作的測量艙
 
 
 
 典型應(yīng)用領(lǐng)域
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 測量極薄的鍍層,涂層測厚儀的使用方法,例如應(yīng)用于電子和半導(dǎo)體行業(yè)中
 
 
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 痕量分析,x測厚儀,例如根據(jù) RoHS、玩具標準、包裝標準對有害物質(zhì)進行檢測
 
 
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 進行高精度的黃金和貴金屬分析
 
 
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 光伏產(chǎn)業(yè)
 
 
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 測量 NiP 鍍層的厚度和成分 
 
 
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